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搜索结果: 1-5 共查到工学 CdZnTe相关记录5条 . 查询时间(0.078 秒)
利用红外(infrared, IR)显微镜、腐蚀坑形貌及傅里叶红外(Fourier transform infrared, FTIR)光谱仪观察研究溶液法制备CdZnTe晶体中的Te夹杂相. 讨论CdZnTe晶锭中Te夹杂相的分布和原因, 及其对晶体中位错密度(etch pit density, EPD) 和红外透过率的影响. 实验结果表明: 沿生长轴方向, Te 夹杂相密度增大, 相应的位错密度...
为实现高电阻CdZnTe半导体(简称CZT)接触电极与外引线的超声波焊接,采用正交实验法探讨CZT接触电极与引线超声波焊接质量的影响因素及其作用规律。结果表明:经机械抛光表面处理的CZT晶片,采用离子溅射法制备的金电极与外引线间具有较高的超声波焊合率,能获得最佳焊点质量的电极厚度为180 nm。此外,CZT接触电极制备工艺和楔入压力都是影响CZT接触电极与引线超声波焊接质量的主要因素,当CZT接触...
CdZnTe(CZT)探测器不需要低温制冷就可在30~600keV较宽的能量范围内得到较好的空间和能量分辨,已成为研究宇宙空间X、γ射线场重要的探测器。本工作研究将4个甄别级10mm×10mm×5mmCZT平面探测器进行改制,并将其并联拼接成20mm×20mm×5mm较大面积的CZT探测器。经测试,大面积CZT探测器对125I、241Am、57Co、133Ba、137Cs具有较好的能量线性响应,...
采用单晶位错研究的热弹性模型,计算模拟了垂直布里奇曼法碲锌镉单晶生长过程的应力场,研究了坩埚内壁碳膜的厚度对晶体内热应力的影响.计算结果表明:晶体边缘与坩埚内壁接触位置的热应力远大于晶体中心处的热应力,碳膜厚度的增加,可以显著地减小晶体边缘处的热应力,然而对晶体中心处的热应力影响较小;另外,晶体生长过程中存在两个高应力区,一是固-液界面以下附近的区域,在晶体与坩埚接触的位置出现最大值max1;另...
文章摘要: 模拟计算了半导体材料CdZnTe布里奇曼法单晶体生长过程,分析了熔体的过热温度、坩埚侧面强化换热以及坩埚加速旋转(ACRT)等因素对结晶界面的形态和晶体组分偏析的影响. 结果表明:当熔体的过热温度减小时, 熔体中自然对流的强度显著降低,固液界面的凹陷深度有所增加, 晶体的轴向等浓度区显著加长,而晶体组分的径向偏析明显增大. 坩埚的侧面强化换热增加...

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