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本报告结合个人在半导体量测设备技术行业的工作经历,简要介绍半导体领域的技术,主要包括芯片制造工艺流程,光学量测技术OCD,器件几何建模,光学仿真算法RCWA和明暗场检测设备图像处理集群。
The IEC61000-4 series of standards form a basic framework for the immunity and emissions testing of electrical and electronic equipment. They are the basis for EN standards used to test CE compliance ...
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The results of a study of the application of conductive adhesives for attaching semiconductor chips to thin film Au conductors is presented. The study concentrates on measuring the stability of the el...

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